Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

The technique of measurement of intraocular lens surface roughness using Atomic Force Microscopy

Tytuł:
The technique of measurement of intraocular lens surface roughness using Atomic Force Microscopy
Autorzy:
Lewandowska, M.
Tematy:
chropowatość powierzchni
AFM
soczewka
surface roughness
IOL
lens
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Źródło:
Interdisciplinary Journal of Engineering Sciences; 2014, 2, 1; 21--25
2300-5874
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Roughness of surface of Intraocular Lens plays an important role, which can provide important information on the interaction between the surface of the implanted lens and lens capsule, among others. Although surfaces appear smooth to the naked eye, they are quite rough at the microscopic levels. The paper presents a technique for measuring surface roughness using AFM. It was found that the size of the scan area does not significantly affect the two standards parameters describing the surface roughness profile (Sa and Sq), however, significantly affect the parameters describing the shape irregularities (Ssk and Ska).

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies